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中原大學 電子工程研究所 溫武義所指導 余志隆的 GOA液晶面板 Array佈局設計與Array檢測 （2012），提出2004 Vios 規格 表關鍵因素是什麼，來自於掃描線驅動電路、檢測、欠陷、佈局、窄邊框。
GOA液晶面板 Array佈局設計與Array檢測
為了解決2004 Vios 規格 表 的問題，作者余志隆 這樣論述：
在平面顯示器市場中，窄邊框液晶顯示器是屬高品質產品。我們常使用出貨交期短的非晶矽陣列製程生產，而較不使用出貨交期長之低溫多晶矽陣列製程生產。a-Si液晶顯示器增加了窄邊框規格，最佳之方法是將掃描線驅動電路於陣列製程中完成。於本論文中我們定義了一種掃描線驅動電路陣列之檢測方法及方式。GOA電路包含閂鎖電路及緩衝電路。GOA電路需要一個低VIA接觸電阻在陣列製程中完成。VIA層主要是要將GE層-SD層金屬之接觸層。在陣列檢測中，有兩套檢測系統，分別為探針檢測系統及非接觸式檢測系統。我們提昇改造現在檢測方式及方法使其可檢測GOA液晶面板。我們分析TFT元件欠陷open/short狀態、時序圖並建立
歸納表，供檢測程式開發時確認使用。