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中央警察大學 鑑識科學研究所 孟憲輝所指導 許秋慧的 彈殼上槍機面凹槽痕之研究 (2015),提出P99 操作槍關鍵因素是什麼,來自於鑑識科學、槍彈鑑識、工具痕跡、彈殼比對、槍機面凹槽痕。

接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧:

除了P99 操作槍,大家也想知道這些:

彈殼上槍機面凹槽痕之研究

為了解決P99 操作槍的問題,作者許秋慧 這樣論述:

近幾年槍彈鑑識之主要國際期刊AFTE Journal (Association of Firearm and Tool Mark Examiners) 刊載某些廠牌槍枝所擊發之彈殼或未經擊發即自彈室退出之子彈中,有另一具條碼狀刮擦痕個化特徵之痕跡,稱為「breechface recess marks」(槍機面凹槽痕),研判係推子彈上膛過程,當子彈從彈匣唇釋放,彈匣之簧力推子彈向上,使子彈之彈底邊緣7至10點鐘方位刮擦到槍機面左下角之凹槽處所形成,經學者實驗研究後發現此痕跡具有特異性與再現性,可供做為個化比對之痕跡,而國內則尚未有此痕跡之相關研究。本研究為深入了解槍機面凹槽痕形成之機制、來源、

位置、槍種、痕跡之再現性與特異性,先以中央警察大學留用之涉案9mm半自動手槍為研究對象,在其中選用七種廠牌型號之槍種為實驗對象,分別為Smith & Wesson Sigma SW9F、Glock 17、Glock 19、Glock 26、Walther P99、Beretta 92F、Beretta 92FS,每個槍種各選用3把,共計21把手槍進行研究,搭配我國205兵工廠2012年製之9×19mm子彈進行實驗。為確定此痕跡形成機制共設計9種槍枝操作模式:(1)單發子彈直接進彈上膛後拆槍取彈、(2)單發子彈直接進彈上膛後退彈、(3)單發子彈直接進彈上膛射擊、(4)單發子彈彈匣裝填上膛後退彈、

(5)單發子彈彈匣裝填上膛射擊、(6)單發子彈彈匣裝填上膛後拆槍取彈、(7)三發或十發子彈彈匣裝填上膛後退彈、(8)三發或十發子彈彈匣裝填上膛射擊、(9)三發或十發子彈彈匣裝填上膛後拆槍取彈。研究結果發現,「槍機面凹槽痕」確實存在於實驗用之Smith & Wesson Sigma SW9F、Glock 17、Glock 19、Glock 26、Walther P99、Beretta 92F、Beretta 92FS等七種廠牌型號之槍枝經彈匣裝填子彈上膛射擊後彈殼或未經擊發即自彈室退出之子彈中,痕跡約形成於彈底邊緣之7-8、8-9或9-10點鐘方位。型態為縱向具條碼狀特徵之痕跡,有時為一條、或二

條分開、或連續刮擦之形態。在一般正常槍枝操作模式下,槍機面凹槽痕之形成機率可達100%。其形成機制係「彈匣裝填子彈,推子彈上膛過程,子彈滑離彈匣唇之瞬間,彈匣之簧力推子彈向上致刮擦槍機面左下角凹槽處下緣切線所形成縱向具條碼性刮擦痕」。且彈匣之簧力強度會影響機面凹槽痕形成之情形,彈匣簧力越大,產生之痕跡越深。Smith & Wesson sigma SW9F、Glock 17、Glock 26、Walther P99、Beretta 92F、Beretta 92FS等六種廠牌型號槍枝之槍機面凹槽痕吻合比對比率達80%以上,具有再現性。而Glock 19此一種廠牌型號槍枝之痕跡吻合比對比率雖然低於

60%,其主因為痕跡特徵不夠明顯,但仍有類化縮小涉案槍枝之價值。整體而言,從槍機面凹槽痕之痕跡型態特徵、形成來源、機制、形成情形與再現性,以及從了解形成痕跡之工具,其製作過程係屬隨機過程,可以推論此痕跡係屬具有個化特徵之痕跡,可做為個化追溯來源槍枝之依據。本研究之研究結果有助於了解槍機面凹槽痕之形成機制、痕跡型態與再現性情形,並確認此痕跡具有能個化比對確認射擊之槍枝,而當痕跡不具有明確之條碼狀特徵無法達到吻合個化比對時,亦可藉由整體痕跡之型態分析來類化縮小射擊槍枝類型。最後,期能藉由研究結果使鑑識人員在槍彈鑑識過程得以運用比對,提供此痕跡在彈殼痕跡比對鑑識之參考價值。