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custom 的問題，我們搜遍了碩博士論文和台灣出版的書籍，推薦Singla, Anupy寫的 The Indian Instant Pot Cookbook: 70 Healthy, Easy, Authentic Recipes 和Kan, Hongwei,Hung, Patrick,Knopf, Greg的 5g Edge Computing Acceleration Technologies都 可以從中找到所需的評價。
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這兩本書分別來自 和所出版 。
國立陽明交通大學 電機資訊國際學程 白田理一郎所指導 羅茜妮的 寫入電壓及寫入/抹除過程的時間延遲對元件可靠度影響之研究 （2021），提出custom 關鍵因素是什麼，來自於跨導、NAND 快閃記憶、可靠度。
而第二篇論文國立陽明交通大學 電機工程學系 廖育德所指導 郭浩毅的 應用於移動式 UHF 射頻充電的高效率且寬輸入範圍之電源管理晶片採用自適應負載/輸入功率匹配技術 （2021），提出因為有 無線充電、寬輸入範圍整流器、自適應負載、輸入功率匹配、MPPT的重點而找出了 custom 的解答。
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The Indian Instant Pot Cookbook: 70 Healthy, Easy, Authentic Recipes
為了解決custom 的問題，作者Singla, Anupy 這樣論述：
ANUPY SINGLA is the author of the bestselling titles The Indian Slow Cooker (Agate Surrey, 2010), Vegan Indian Cooking (Agate Surrey, 2012), and Indian for Everyone (Agate Surrey, 2014), all of which have been among the top-selling Indian cookbooks since their release. She is the founder and CEO of
Indian As Apple Pie, a company that creates and sells custom spice blends as well as unique home goods. Singla blogs at Indian As Apple Pie, and her writing has been featured in many print and online outlets. She formerly worked as an on-air TV reporter and anchor for CLTV News, the cable arm of Tri
bune Media and sister station to Chicago’s WGN-TV, and for Bloomberg TV. Her books have been praised in Better Homes & Gardens, Good Housekeeping, the Wall Street Journal, the Chicago Tribune, the Chicago Sun-Times, and Entrepreneur magazine. Singla lives with her husband and two daughters in Chicag
o, Illinois.
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寫入電壓及寫入/抹除過程的時間延遲對元件可靠度影響之研究
為了解決custom 的問題，作者羅茜妮 這樣論述：
NAND快閃記憶體的可靠度會隨著連續寫入/抹除的次數增加，其行為可以在電流-電壓(I_D V_G)特性曲線中觀察到。導通電流隨著多次循環過程而下降。主要原因是經過多次寫入/抹除後，穿隧電子破壞氧化層而形成電荷缺陷，因而影響元件的可靠性，還可能造成資料儲存失敗或記憶體元件擊穿。本論文主要探討各種不同的寫入/抹除條件在室溫下對元件可靠度的影響，如: 寫入電壓、寫入到抹除過程的時間延遲、及抹除到寫入過程的時間延遲。從量測實驗中可以觀察到在室溫下，氧化層退化越嚴重隨著寫入電壓的增加，因為電場增加導致更多電洞注入到氧化層中，進而產生更多的電荷缺陷和介面缺陷。另外，透過實驗觀察到在室溫下，抹除到寫入過程
(E/P)的時間延遲相較於寫入到抹除過程(P/E)的時間延遲對元件可靠度有較顯著的影響，且較長的寫入/抹除時間延遲會造成更嚴重的氧化層缺陷。主要是因為在較長的的寫入/抹除時間延遲有利於電洞在氧化層中漂移，在靠近矽通道的表面與電子複合，產生更多的電荷缺陷或介面缺陷。
5g Edge Computing Acceleration Technologies
為了解決custom 的問題，作者Kan, Hongwei,Hung, Patrick,Knopf, Greg 這樣論述：
PATRICK HUNG, PhD, is Asia Pacific Head of Maxeler Technologies. He is a techn/ical committee member on ESOC of IEEE Industrial Electronics Society, and an executive committee member of IEEE Hong Kong Section Computer Society Chapter. He cofounded CPO Technologies Corporation in Silicon Valley in 20
00 and Velosti Technology in Hong Kong in 2009.HONGWEI KAN is Chief Scientist at Inspur Group. He is also a Visiting Professor at Beijing University of Posts and Telecommunications as well as China University of Mining and Technology. He is an expert in computer architecture, artificial intelligence
and custom computer technologies. Mr. Kan is Jinan Special Expert in Shandong Province.GREG KNOPF is Senior Director within Server Customer Engineering at Advanced Micro Devices. Before joining Advanced Micro Devices, Mr. Knopf was Senior Director of Engineering at Intel Corporation, leading techni
cal development pipeline for new system and platform technologies targeting client devices.
應用於移動式 UHF 射頻充電的高效率且寬輸入範圍之電源管理晶片採用自適應負載/輸入功率匹配技術
為了解決custom 的問題，作者郭浩毅 這樣論述：
近年來由於物聯網的興起，使得環境中佈建的無線感測器之需求快速上升。傳統的無線感測器之能量來源主要藉由化學電池提供，因此要具有較長的生命週期與較小的體積是相當困難的。無線能量擷取技術為透過環境中的能量來驅動電子電路的相關技術，提供無線感測節點所需的能量並且延長電池壽命。RF功率擷取方法是目前最常使用於短距離(數十公尺內)能量傳遞的方法之一，但由於目前的RF能量管理電路的高效率受限於窄小的輸入功率範圍，因此相關的應用依舊十分受限。本論文以應用於物聯網之無線能量擷取系統為出發點，除了使用可重構式技術來改善傳統交直流轉換架構之窄小輸入範圍的能量轉換曲線達成具有大動態輸入範圍之交直流轉換電路外，更藉由
後端包含負載調變電路的MPPT技術與低壓降穩壓器穩定輸出電壓值來提高高輸入功率時整體系統之效率。整體系統以CMOS 0.18μm製程製作，為一個全整合式之積體電路，其寬輸入動態範圍之交直流轉換電路具有54.2%之最佳轉換效率、-19.6dBm之靈敏度與20dB大輸入範圍且高轉換效率(Efficiency > 20%)。高轉換效率的能量擷取與高整合晶片將可以有效地解決過去RF能量擷取的效率不佳及能量浪費等問題，並且可以應用於更多功率以及體積限制的植入式生物感測器系統、智慧感測系統、自動電子收費系統貼片及無線充電等需要無線能量傳輸及穩定輸出電壓值的電路中。